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ICT測(cè)試?yán)碚撟鲆恍┖?jiǎn)單介紹1基本測(cè)試方法利用運(yùn)算放大器進(jìn)行測(cè)試。由“A”點(diǎn)“虛地”的概念有：∵Ix=Iref∴Rx=Vs/V0*RrefVs、Rref分別為激勵(lì)信號(hào)源、儀器計(jì)算電阻。測(cè)量出V0，則Rx可求出。若待測(cè)Rx為電容、電感，則Vs交流信號(hào)源，Rx為阻抗形式，同樣可求出C或L。隔離（Guarding）上面的測(cè)試方法是針對(duì)的器件，而實(shí)際電路上器件相互連接、相互影響，使Ix笽ref，測(cè)試時(shí)必須加以隔離（Guarding）。隔離是在線測(cè)試的基本技術(shù)。在上電路中，因R1、R2的連接分流，使Ix笽ref，Rx=Vs/V0*Rref等式不成立。接駁臺(tái)整機(jī)技術(shù)特點(diǎn)：傳動(dòng)機(jī)構(gòu)采用精密模塊化設(shè)計(jì)，傳動(dòng)準(zhǔn)...

ICT優(yōu)勢(shì)：降低損耗，節(jié)約成本，ICT在線測(cè)試儀是以小電流、小電壓進(jìn)行小信號(hào)靜態(tài)檢測(cè)，能夠有效的防止電路板因有短路等故障通電后燒壞器件或電路板，將生產(chǎn)損耗降低，節(jié)約成本。尤其是將電路板故障發(fā)生在生產(chǎn)過(guò)程中，成本低約是發(fā)現(xiàn)在用戶端成本的百分之一 使用先進(jìn)的的(ICT)是趨勢(shì)所趨，現(xiàn)代化的生產(chǎn)趨勢(shì)是以適當(dāng)?shù)脑O(shè)備取代人，以節(jié)約成本，提高生產(chǎn)率，ICT在電路板的制造業(yè)已普遍使用。 提高產(chǎn)品質(zhì)量的可靠性與一致性，在檢測(cè)過(guò)程中，人的可變因素太多，產(chǎn)品質(zhì)量會(huì)因人的可變因素的變化而變化，ICT在線測(cè)試儀設(shè)備有效解決了這個(gè)問(wèn)題，讓產(chǎn)品質(zhì)量的可靠性一致性更強(qiáng)。 ICT是一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段。金華ICT測(cè)定儀廠家由于從...

自動(dòng)化ICT在線測(cè)試儀大都基于開(kāi)放式硬、軟件體系結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，能夠靈活地?cái)U(kuò)展硬件，快捷方便的建立測(cè)試程序，一般可以做到支持多種儀器，可以靈活的按需進(jìn)行配置，而且要具有豐富的基本測(cè)試項(xiàng)目，大可能地為用戶提供通用、靈活、規(guī)范的解決方案。 快速、準(zhǔn)確、高節(jié)奏。ICT在線測(cè)試儀是適應(yīng)批量化，規(guī)?；纳a(chǎn)PCB的產(chǎn)物，可以快速檢測(cè)出故障，并可以指示出故障所在地方，方便維修、加快生產(chǎn)流程，ICT檢測(cè)普通的單塊電路板只需要1秒左右的時(shí)間。 是促進(jìn)提高質(zhì)量控制，改進(jìn)工藝的有效手段。隨著生產(chǎn)工藝的不斷成熟與生產(chǎn)設(shè)備性能的不斷提高，糾正已經(jīng)發(fā)生的故障。 接駁臺(tái)整機(jī)技術(shù)特點(diǎn)：設(shè)備關(guān)鍵電器元件起保護(hù)作用。鎮(zhèn)江ICT測(cè)試設(shè)...

將多個(gè)掃描器件的掃描鏈通過(guò)他們的TAP連在一起就形成一個(gè)連續(xù)的邊界寄存器鏈，在鏈頭加TAP信號(hào)就可控制和檢測(cè)所有與鏈相連器件的管腳。這樣的虛擬接觸代替了針床夾具對(duì)器件每個(gè)管腳的物理接觸，虛擬訪問(wèn)代替實(shí)際物理訪問(wèn)，去掉大量的占用PCB板空間的測(cè)試焊盤(pán)，減少了PCB和夾具的制造費(fèi)用。作為一種測(cè)試策略，在對(duì)PCB板進(jìn)行可測(cè)性設(shè)計(jì)時(shí)，可利用專門(mén)軟件分析電路網(wǎng)點(diǎn)和具掃描功能的器件，決定怎樣有效地放有限數(shù)量的測(cè)試點(diǎn)，而又不減低測(cè)試覆蓋率，經(jīng)濟(jì)的減少測(cè)試點(diǎn)和測(cè)試針。IN Line ICT+雙層FCT自動(dòng)測(cè)試線功能特點(diǎn)：多系統(tǒng)測(cè)試模塊，可以提高一倍的效率。smt貼片ICT治具技術(shù)指標(biāo)離線型ict測(cè)試儀系統(tǒng)是為...

將多個(gè)掃描器件的掃描鏈通過(guò)他們的TAP連在一起就形成一個(gè)連續(xù)的邊界寄存器鏈，在鏈頭加TAP信號(hào)就可控制和檢測(cè)所有與鏈相連器件的管腳。這樣的虛擬接觸代替了針床夾具對(duì)器件每個(gè)管腳的物理接觸，虛擬訪問(wèn)代替實(shí)際物理訪問(wèn)，去掉大量的占用PCB板空間的測(cè)試焊盤(pán)，減少了PCB和夾具的制造費(fèi)用。作為一種測(cè)試策略，在對(duì)PCB板進(jìn)行可測(cè)性設(shè)計(jì)時(shí)，可利用專門(mén)軟件分析電路網(wǎng)點(diǎn)和具掃描功能的器件，決定怎樣有效地放有限數(shù)量的測(cè)試點(diǎn)，而又不減低測(cè)試覆蓋率，經(jīng)濟(jì)的減少測(cè)試點(diǎn)和測(cè)試針。IN Line ICT+雙層FCT自動(dòng)測(cè)試線功能特點(diǎn)：無(wú)人機(jī)操作系統(tǒng)。無(wú)錫ICT測(cè)試設(shè)備泰瑞達(dá)邊界掃描技術(shù)解決了無(wú)法增加測(cè)試點(diǎn)的困難，更重要的是...

SMT器件的大量應(yīng)用，使器件引腳開(kāi)路的故障現(xiàn)象變得更加突出。為此各公司非向量測(cè)試技術(shù)，Teradyne推出MultiScan；GenRad推出的Xpress非向量測(cè)試技術(shù)。DeltaScan模擬結(jié)測(cè)試技術(shù)DeltaScan利用幾乎所有數(shù)字器件管腳和絕大多數(shù)混合信號(hào)器件引腳都有的靜電放電保護(hù)或寄生二極管，對(duì)被測(cè)器件的引腳對(duì)進(jìn)行簡(jiǎn)單的直流電流測(cè)試。當(dāng)某塊板的電源被切斷后，器件上任何兩個(gè)管腳的等效電路如下圖中所示。1在管腳A加一對(duì)地的負(fù)電壓，電流Ia流過(guò)管腳A之正向偏壓二極管。測(cè)量流過(guò)管腳A的電流Ia。2保持管腳A的電壓，在管腳B加一較高負(fù)電壓，電流Ib流過(guò)管腳B之正向偏壓二極管。全自動(dòng)ICTFCT...

自動(dòng)化ICT在線測(cè)試儀大都基于開(kāi)放式硬、軟件體系結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，能夠靈活地?cái)U(kuò)展硬件，快捷方便的建立測(cè)試程序，一般可以做到支持多種儀器，可以靈活的按需進(jìn)行配置，而且要具有豐富的基本測(cè)試項(xiàng)目，大可能地為用戶提供通用、靈活、規(guī)范的解決方案。 快速、準(zhǔn)確、高節(jié)奏。ICT在線測(cè)試儀是適應(yīng)批量化，規(guī)模化的生產(chǎn)PCB的產(chǎn)物，可以快速檢測(cè)出故障，并可以指示出故障所在地方，方便維修、加快生產(chǎn)流程，ICT檢測(cè)普通的單塊電路板只需要1秒左右的時(shí)間。 是促進(jìn)提高質(zhì)量控制，改進(jìn)工藝的有效手段。隨著生產(chǎn)工藝的不斷成熟與生產(chǎn)設(shè)備性能的不斷提高，糾正已經(jīng)發(fā)生的故障。 在線ICT+FCT綜合自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)能夠與產(chǎn)線其他設(shè)備無(wú)縫對(duì)接。...

首先定義了組成測(cè)試訪問(wèn)端口（TAP）的四（五〕個(gè)管腳：TDI、TDO、TCK、TMS，（TRST）。測(cè)試方式選擇（TMS）用來(lái)加載控制信息；其次定義了由TAP控制器支持的幾種不同測(cè)試模式，主要有外測(cè)試（EXTEST）、內(nèi)測(cè)試（INTEST）、運(yùn)行測(cè)試（RUNTEST）；后提出了邊界掃描語(yǔ)言（BoundaryScanDescriptionLanguage），BSDL語(yǔ)言描述掃描器件的重要信息，它定義管腳為輸入、輸出和雙向類型，定義了TAP的模式和指令集。具有邊界掃描的器件的每個(gè)引腳都和一個(gè)串行移位寄存器（SSR）的單元相接，稱為掃描單元，掃描單元連在一起構(gòu)成一個(gè)移位寄存器鏈，用來(lái)控制和檢測(cè)器件引...

ict里面會(huì)包含如下三個(gè)測(cè)試項(xiàng)目。OpenTest:開(kāi)路測(cè)試是要測(cè)出待測(cè)電路板上預(yù)期(Expected)短路的元件是否因錯(cuò)件或漏件而造成開(kāi)路。ShortTest:短路測(cè)試是要測(cè)試出待測(cè)電路板上不被預(yù)期的(Unexpected)短路現(xiàn)象。MDATest：ManufacturingDefectsAnalysis工程缺陷分析，電阻、電容、電感等被動(dòng)元器件的量測(cè)。提到MDAtest，我其實(shí)有幸見(jiàn)識(shí)到華碩電腦的MDAtest，華碩是單獨(dú)測(cè)試mda的，也是通過(guò)壓合留有卡槽的載板使頂針接觸板子測(cè)試點(diǎn)。ICT的范圍及特點(diǎn)檢查制成板上在線元器件的電氣性能和電路網(wǎng)絡(luò)的連接情況。接駁臺(tái)整機(jī)技術(shù)特點(diǎn)：設(shè)置有經(jīng)濟(jì)運(yùn)行，...

另一個(gè)無(wú)矢量技術(shù)將交流(AC)信號(hào)通過(guò)針床施加到測(cè)試中的元件。一個(gè)傳感器板*住測(cè)試中的元件表面壓住，與元件引腳框形成一個(gè)電容，將信號(hào)偶合到傳感器板。沒(méi)有偶合信號(hào)表示焊點(diǎn)開(kāi)路。用于大型復(fù)雜板的測(cè)試程序人工生成很費(fèi)時(shí)費(fèi)力，但自動(dòng)測(cè)試程序產(chǎn)生軟件的出現(xiàn)解決了這一問(wèn)題，該軟件基于PCBA和CAD數(shù)據(jù)和裝配于板上的元件規(guī)格庫(kù)，自動(dòng)地設(shè)計(jì)所要求的夾具和測(cè)試程序。雖然這些技術(shù)有助于縮短簡(jiǎn)單程序的生成時(shí)間，但高節(jié)點(diǎn)數(shù)測(cè)試程序的論證還是費(fèi)時(shí)和具有技術(shù)挑戰(zhàn)性。 IN Line ICT+雙層FCT自動(dòng)測(cè)試線功能特點(diǎn)：可以配備全自動(dòng)上板機(jī)上板。常州ICT測(cè)試機(jī)器IC燒錄程序功能說(shuō)明 隨著MCU，CPLD，DSP，F(xiàn)P...

? 能夠在短短的數(shù)秒鐘內(nèi)，全檢出組裝電路板(loaded PC board)上零件-電阻、電容、電感、電晶體、二極體、穩(wěn)壓二極體、光偶器、繼電器等零件，是否在我們?cè)O(shè)計(jì)的規(guī)格內(nèi)運(yùn)作。 ? 能夠先期找出制程不良所在，如漏件(missing part)、折腳(bending)、短路(short)、錫橋(bridge)、反向(miss-oriented)、錯(cuò)件(wrong part)、開(kāi)路(open)、焊接不良等問(wèn)題，回饋到制程的改善。 ? 能夠?qū)⑸鲜龉收匣虿涣假Y訊以印表機(jī)印出測(cè)試結(jié)果，包括故障位置、零件標(biāo)準(zhǔn)值、測(cè)試值，以供維修人員參考?？梢杂行Ы档腿藛T對(duì)產(chǎn)品技術(shù)依賴度，不需對(duì)產(chǎn)品線路了解，照樣有...

ICT測(cè)試?yán)碚撟鲆恍┖?jiǎn)單介紹1基本測(cè)試方法利用運(yùn)算放大器進(jìn)行測(cè)試。由“A”點(diǎn)“虛地”的概念有：∵Ix=Iref∴Rx=Vs/V0*RrefVs、Rref分別為激勵(lì)信號(hào)源、儀器計(jì)算電阻。測(cè)量出V0，則Rx可求出。若待測(cè)Rx為電容、電感，則Vs交流信號(hào)源，Rx為阻抗形式，同樣可求出C或L。隔離（Guarding）上面的測(cè)試方法是針對(duì)的器件，而實(shí)際電路上器件相互連接、相互影響，使Ix笽ref，測(cè)試時(shí)必須加以隔離（Guarding）。隔離是在線測(cè)試的基本技術(shù)。在上電路中，因R1、R2的連接分流，使Ix笽ref，Rx=Vs/V0*Rref等式不成立。在線自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)都是由“信號(hào)采集-信號(hào)調(diào)理-數(shù)據(jù)處理-...

一、ICT治具結(jié)構(gòu)組成：1、針板：用于固定測(cè)試針。針頭是鍍金的。2、載板：用于放置保護(hù)被測(cè)試PCBA。3、天板：固定于ICT機(jī)臺(tái)氣缸上壓合治具和被測(cè)試PCBA。二、ICT治具關(guān)鍵控制點(diǎn)：1、板厚、高度、定位孔高度直徑、探針位置、銑讓位、擋柱等都需符合設(shè)計(jì)規(guī)范，有計(jì)數(shù)器用來(lái)計(jì)算探針測(cè)試次數(shù)。2、探針的使用規(guī)定的型號(hào)與廠商；上下載板必須用ESD的電木板材質(zhì)（ESD=107~109Ω，使用SL-030靜電測(cè)量表量測(cè)）；各種繞線需按規(guī)定用線，通常使用AWG18-AWG22號(hào)線，必須加熱縮套管，繞線要分散,不能捆綁；testjet感應(yīng)板要小于零件本體表面面積,但不能小于零件本體的2/3.具體標(biāo)準(zhǔn)以實(shí)際零...

SMT器件的大量應(yīng)用，使器件引腳開(kāi)路的故障現(xiàn)象變得更加突出。為此各公司非向量測(cè)試技術(shù)，Teradyne推出MultiScan；GenRad推出的Xpress非向量測(cè)試技術(shù)。DeltaScan模擬結(jié)測(cè)試技術(shù)DeltaScan利用幾乎所有數(shù)字器件管腳和絕大多數(shù)混合信號(hào)器件引腳都有的靜電放電保護(hù)或寄生二極管，對(duì)被測(cè)器件的引腳對(duì)進(jìn)行簡(jiǎn)單的直流電流測(cè)試。當(dāng)某塊板的電源被切斷后，器件上任何兩個(gè)管腳的等效電路如下圖中所示。1在管腳A加一對(duì)地的負(fù)電壓，電流Ia流過(guò)管腳A之正向偏壓二極管。測(cè)量流過(guò)管腳A的電流Ia。2保持管腳A的電壓，在管腳B加一較高負(fù)電壓，電流Ib流過(guò)管腳B之正向偏壓二極管。IN Line I...

ICT測(cè)試?yán)碚撟鲆恍┖?jiǎn)單介紹1基本測(cè)試方法利用運(yùn)算放大器進(jìn)行測(cè)試。由“A”點(diǎn)“虛地”的概念有：∵Ix=Iref∴Rx=Vs/V0*RrefVs、Rref分別為激勵(lì)信號(hào)源、儀器計(jì)算電阻。測(cè)量出V0，則Rx可求出。若待測(cè)Rx為電容、電感，則Vs交流信號(hào)源，Rx為阻抗形式，同樣可求出C或L。隔離（Guarding）上面的測(cè)試方法是針對(duì)的器件，而實(shí)際電路上器件相互連接、相互影響，使Ix笽ref，測(cè)試時(shí)必須加以隔離（Guarding）。隔離是在線測(cè)試的基本技術(shù)。在上電路中，因R1、R2的連接分流，使Ix笽ref，Rx=Vs/V0*Rref等式不成立。全自動(dòng)ICT和FCT測(cè)試機(jī)功能：電容電感的一些高壓測(cè)試...

ict里面會(huì)包含如下三個(gè)測(cè)試項(xiàng)目。OpenTest:開(kāi)路測(cè)試是要測(cè)出待測(cè)電路板上預(yù)期(Expected)短路的元件是否因錯(cuò)件或漏件而造成開(kāi)路。ShortTest:短路測(cè)試是要測(cè)試出待測(cè)電路板上不被預(yù)期的(Unexpected)短路現(xiàn)象。MDATest：ManufacturingDefectsAnalysis工程缺陷分析，電阻、電容、電感等被動(dòng)元器件的量測(cè)。提到MDAtest，我其實(shí)有幸見(jiàn)識(shí)到華碩電腦的MDAtest，華碩是單獨(dú)測(cè)試mda的，也是通過(guò)壓合留有卡槽的載板使頂針接觸板子測(cè)試點(diǎn)。ICT的范圍及特點(diǎn)檢查制成板上在線元器件的電氣性能和電路網(wǎng)絡(luò)的連接情況。ICT使電子技術(shù)水準(zhǔn)，一般的工人處理...

DeltaScan技術(shù)不需附加夾具硬件，成為首推技術(shù)。FrameScan電容藕合測(cè)試FrameScan利用電容藕合探測(cè)管腳的脫開(kāi)。每個(gè)器件上面有一個(gè)電容性探頭，在某個(gè)管腳激勵(lì)信號(hào)，電容性探頭拾取信號(hào)。如圖所示：1夾具上的多路開(kāi)關(guān)板選擇某個(gè)器件上的電容性探頭。2測(cè)試儀內(nèi)的模擬測(cè)試板（ATB）依次向每個(gè)被測(cè)管腳發(fā)出交流信號(hào)。3電容性探頭采集并緩沖被測(cè)管腳上的交流信號(hào)。4ATB測(cè)量電容性探頭拾取的交流信號(hào)。如果某個(gè)管腳與電路板的連接是正確的，就會(huì)測(cè)到信號(hào)；如果該管腳脫開(kāi)，則不會(huì)有信號(hào)。GenRad類式的技術(shù)稱OpenXpress。原理類似。ICT+FCT測(cè)試線，實(shí)現(xiàn)ICT&FCT測(cè)試全自動(dòng)化。上海多...

IC燒錄程序功能說(shuō)明 隨著MCU，CPLD，DSP，F(xiàn)PGA，F(xiàn)LASH等器件在 產(chǎn)品上的大量應(yīng)用，每個(gè)產(chǎn)品都需要對(duì)上面的IC進(jìn)行燒錄，蘇州德智電子有限公司在PTI816S上也集成了IC的燒錄，可 以讓客戶把ICT測(cè)試和IC燒錄兩個(gè)工位集成到一個(gè)工位上來(lái)，達(dá) 到減員生效的效果。 二：功能參數(shù)： 1，目前標(biāo)配可以支持多八連片燒錄 2，支持多連片同時(shí)燒錄或單片順序燒錄 3，燒錄更多連板可以擴(kuò)展外部模塊， 4，支持市面上大部分51,PIC ARM,CPLD,DSP,EPROM,FLASH的燒錄， 5，支持市面上大部分通用燒錄器接口，如南京西 爾特，洛浦，Phyton，Elnec DATA I/O，...