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電磁干擾（EMI）條件：電磁干擾是另一個需要考慮的因素，特別是對于高速串行數(shù)據(jù)傳輸。為了盡量減小外部電磁干擾對測試結(jié)果的影響，測試環(huán)境可能需要提供良好的屏蔽和抗干擾措施。電源供應(yīng)條件：良好的電源供應(yīng)對于測試結(jié)果的穩(wěn)定性和可靠性也非常重要。確保供電穩(wěn)定、低噪聲和...

錯誤檢測和糾正（ECC）功能測試：DDR5內(nèi)存模塊具備錯誤檢測和糾正的功能，可以檢測并修復(fù)部分位錯誤。測試過程涉及注入和檢測位錯誤，并驗證內(nèi)存模塊的糾錯能力和數(shù)據(jù)完整性。 功耗和能效測試：功耗和能效測試是評估DDR5內(nèi)存模塊在不同負載和工作條件下的功...

DDR5相對于之前的內(nèi)存標準（如DDR4）具有以下優(yōu)勢和重要特點：更高的帶寬和傳輸速度：DDR5采用了雙倍數(shù)據(jù)率技術(shù)，每個時鐘周期內(nèi)傳輸?shù)臄?shù)據(jù)次數(shù)是DDR4的兩倍，從而實現(xiàn)更高的數(shù)據(jù)傳輸速度和內(nèi)存帶寬。這使得DDR5能夠提供更快速的數(shù)據(jù)讀寫和處理能力，加速計算...

對DDR4內(nèi)存模塊進行性能測試是評估其性能和穩(wěn)定性的關(guān)鍵步驟。以下是一些常見的DDR4內(nèi)存模塊性能測試和相關(guān)標準：帶寬測試：帶寬測試是衡量內(nèi)存模塊傳輸數(shù)據(jù)速度的方法之一。通過測試數(shù)據(jù)讀取和寫入的速度，可以確定內(nèi)存模塊的帶寬（即單位時間內(nèi)傳輸?shù)臄?shù)據(jù)量）。主要指標...

錯誤檢測和糾正（ECC）功能測試：DDR5內(nèi)存模塊具備錯誤檢測和糾正的功能，可以檢測并修復(fù)部分位錯誤。測試過程涉及注入和檢測位錯誤，并驗證內(nèi)存模塊的糾錯能力和數(shù)據(jù)完整性。 功耗和能效測試：功耗和能效測試是評估DDR5內(nèi)存模塊在不同負載和工作條件下的功...

低功耗和高能效：DDR5引入了更先進的節(jié)能模式，包括Deep Power Down（DPD）和Partial Array Self-Refresh（PASR）等技術(shù)。這些技術(shù)可以在系統(tǒng)閑置或低負載時降低功耗，提供更好的能源效率。 強化的信號完整性：D...

創(chuàng)建工程啟動SystemSI工具，單擊左側(cè)Workflow下的LoadaNew/ExistingWorkspace菜單項,在彈出的WorkspaceFile對話框中選擇Createanewworkspace,單擊OK按鈕。在彈出的SelectModule對...

電氣完整性（Electrical Integrity）指的是電路或系統(tǒng)在運行過程中保持正常的電學特性，如電壓、電流、電阻等。電氣完整性的保持對于電路或系統(tǒng)的穩(wěn)定運行非常重要，它能夠保證信號傳輸?shù)目煽啃?、抗干擾能力以及減少誤差率和能耗等問題。在電子設(shè)備和系統(tǒng)...

走線阻抗/耦合檢查 走線阻抗/耦合檢查流程在PowerSI和SPEED2000中都有，流程也是一樣的。本例通過 Allegro Sigrity SI 啟動 Trace Impedance/Coupling Check,自動調(diào)用 PowerSI 的流程...

高速DDRx總線系統(tǒng)設(shè)計 首先簡要介紹DDRx的發(fā)展歷程，通過幾代DDR的性能及信號完整性相關(guān)參數(shù)的 對比，使我們對DDRx總線有了比較所有的認識。隨后介紹DDRx接口使用的SSTL電平， 以及新一代DDR4使用的POD電平，這能幫助我們在今后的設(shè)計...

PCB的信號完整性問題主要包括信號反射、串擾、信號延遲和時序錯誤。 1、反射信號在傳輸線上傳輸時，當高速PCB上傳輸線的特征阻抗與信號的源端阻抗或負載阻抗不匹配時，信號會發(fā)生反射，使信號波形出現(xiàn)過沖、下沖和由此導致的振鈴現(xiàn)象。過沖（Overshoot...

進行串擾分析和調(diào)整的方法，可以根據(jù)具體情況進行選擇，一般可以采取以下幾種方法： 1.EMI擾動現(xiàn)場測試：在現(xiàn)場使用專業(yè)的測試儀器對電路板進行測量，記錄串擾信號的種類、幅度、波形等參數(shù)，分析出串擾的來源和路徑，從而找出合適的解決方法。 2.數(shù)值仿...

眼圖模板 什么是模板（Mask）測試？ ?模板測試是一種優(yōu)化的制造級測試（Pass/Fail)?在大多數(shù)情況下，模板測試能代替各種眼圖指標的測試。 ?大部分標準都定義了容易進行一致性測量的模板。 ?模板測試比眼圖的各種指標測量更容易、更快...

3. 時鐘分配問題 時鐘分配問題會導致時鐘信號變形和漂移，從而導致符號邊界錯誤和時序問題。檢測時鐘信號的完整性，以及時脈信號的準確度和穩(wěn)定性，是確保系統(tǒng)正常工作的必要步驟。 4. 電源完整性問題 電源完整性與電路中的信號完整性密切相關(guān)，它...

信號完整性是指保證信號在傳輸路徑中受到少的干擾和失真以及在接收端能夠正確解碼。在高速數(shù)字系統(tǒng)中，信號完整性是保證系統(tǒng)性能和可靠性的關(guān)鍵因素。本文將介紹信號完整性的基礎(chǔ)知識。 1. 信號完整性相關(guān)參數(shù)： -上升時間：信號從低電平變?yōu)楦唠娖剿璧臅r...

DDR的信號探測技術(shù) 在DDR的信號測試中，還有 一 個要解決的問題是怎么找到相應(yīng)的測試點進行信號探 測。由于DDR的信號不像PCle、SATA、USB等總線 一 樣有標準的連接器，通常都是直接 的BGA顆粒焊接，而且JEDEC對信號規(guī)范的定義也都是...

在實際探測時，對于DDR的CLK和DQS,由于通常是差分的信號(DDR1和DDR2的 DQS還是單端信號，DDR3以后的DQS就是差分的了),所以 一般用差分探頭測試。DQ信 號是單端信號，所以用差分或者單端探頭測試都可以。另外，DQ信號的數(shù)量很多，雖然逐...

三、測試工具 高速電路測試需要使用一系列的測試工具和測試設(shè)備，常見的測試工具包括示波器、頻譜分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、信號發(fā)生器、信號分析儀等。這些工具可以用來測試電路的信號電氣特性，包括電壓、電流、頻率、相位等參數(shù)。同時，還可以通過這些工具進行數(shù)據(jù)采集、...

4、工業(yè)以太網(wǎng)交換機的產(chǎn)品分類？ 工業(yè)以太網(wǎng)交換機可按管理性分為非管理交換機及管理型交換機，主要的區(qū)別在對于高級網(wǎng)絡(luò)的管理功能及是否支持冗余備份功能，也可按照端口速率及結(jié)構(gòu)來劃分。 5、什么是交換機背板帶寬？ 交換機的背板帶寬，是工業(yè)交換...

DDR-致性測試探測和夾具 DDR的信號速率都比較高，要進行可靠的測量，通常推薦的探頭連接方式是使用焊接式 探頭。還有許多很難在PCB板上找到相應(yīng)的測試焊盤的情況（比如釆用盲埋孔或雙面BGA 焊接的情況），所以Agilent還提供了不同種類的BGA探...

除了DDR以外，近些年隨著智能移動終端的發(fā)展，由DDR技術(shù)演變過來的LPDDR (Low-Power DDR,低功耗DDR)也發(fā)展很快。LPDDR主要針對功耗敏感的應(yīng)用場景，相 對于同一代技術(shù)的DDR來說會采用更低的工作電壓，而更低的工作電壓可以直接減少器 件...

4.抖動測試抖動測試是一種測試方法，用于測量電路輸出信號的穩(wěn)定性和精度。在高速電路測試中，抖動測試通常使用高速示波器和數(shù)字信號分析儀等儀器進行。 5.電源噪聲測試電源噪聲測試是一種測試方法，用于測量電路在電源噪聲的影響下的性能。在高速電路測試中，電源...

5、技術(shù)選擇 不同的驅(qū)動技術(shù)適于不同的任務(wù)。 信號是點對點的還是一點對多抽頭的？信號是從電路板輸出還是留在相同的電路板上？允許的時滯和噪聲裕量是多少？作為信號完整性設(shè)計的通用準則，轉(zhuǎn)換速度越慢，信號完整性越好。50MHZ時鐘采用500PS上升時...

傳輸速率測試在USB 3.0測試中具有重要的必要性，它用于驗證USB 3.0設(shè)備在數(shù)據(jù)傳輸方面的性能是否符合規(guī)范要求。以下是傳輸速率測試的必要性和步驟的解釋： 必要性： 確保設(shè)備性能達標：傳輸速率是衡量USB 3.0設(shè)備性能的重要指標之一。通過...

4、工業(yè)以太網(wǎng)交換機的產(chǎn)品分類？ 工業(yè)以太網(wǎng)交換機可按管理性分為非管理交換機及管理型交換機，主要的區(qū)別在對于高級網(wǎng)絡(luò)的管理功能及是否支持冗余備份功能，也可按照端口速率及結(jié)構(gòu)來劃分。 5、什么是交換機背板帶寬？ 交換機的背板帶寬，是工業(yè)交換...

二、高速電路測試技術(shù)的現(xiàn)狀和挑戰(zhàn) 目前，高速電路測試技術(shù)已經(jīng)發(fā)展出了多種測試方法和設(shè)備，包括高速示波器、邏輯分析儀、時鐘恢復(fù)芯片、信號發(fā)生器、頻譜分析儀等。同時，通信接口標準例如PCI-E、USB、SATA等也對于測試技術(shù)的提升發(fā)揮了推動作用。但是，...

振鈴?fù)ǔＪ怯捎谛盘杺鬏斅窂竭^長并且阻抗不連續(xù)所引起的多次反射造成的，或者是由 于信號之間的干擾（串擾）、信號跳變所引起的電源/地波動（同步開關(guān)噪聲）造成的。 （4）邊沿單調(diào)性（Monotonicity）指信號上升或下降沿的回溝。對于邊沿判決的時鐘信號...

按照存儲信息方式的不同，隨機存儲器又分為靜態(tài)隨機存儲器SRAM(Static RAM)和 動態(tài)隨機存儲器DRAM(Dynamic RAM)。SRAM運行速度較快、時延小、控制簡單，但是 SRAM每比特的數(shù)據(jù)存儲需要多個晶體管，不容易實現(xiàn)大的存儲容量，主要用于一...

理論分析得到如下幾條結(jié)論，在實際應(yīng)用中要以此為參考，從眼圖中對系統(tǒng)性能作一論述： （1）比較好抽樣時刻應(yīng) 在 “眼睛” 張開比較大的時刻。 （2）對定時誤差的靈敏度可由眼圖斜邊的斜率決定。斜率越大，對定時誤差就越靈敏。 （3）在抽樣時刻上...

USB 3.0測試旨在驗證USB 3.0設(shè)備在數(shù)據(jù)傳輸速度、功耗、兼容性等方面的正常運行和符合規(guī)范要求。通過進行測試，可以確保USB 3.0設(shè)備的性能和功能可靠，并與其他設(shè)備或系統(tǒng)無縫連接。 以下是USB 3.0測試的主要方面： 傳輸速度測試：...