杭州芯紀源半導體設備有限公司2025-08-02
主要技術已實現(xiàn)突破。國產(chǎn)設備(如芯紀源系列)在探頭頻率(比較高230MHz)、采樣頻率(1.5GHz)等指標上達到國際水平,且支持T掃描斷層成像,而早期進口設備支持C掃描。某研究院對比測試顯示,國產(chǎn)設備對0.1mm級缺陷的識別率與Sonoscan相當。
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